熱門關(guān)鍵詞: 高壓開關(guān)動(dòng)作特性測(cè)試儀 斷路器特性測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng) 承裝承試設(shè)備選型 高壓開關(guān)測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試 串聯(lián)諧振
絕緣電阻測(cè)試儀是測(cè)量絕緣電阻的專用儀表。
常見的絕緣電阻測(cè)試儀根據(jù)其電壓等級(jí)有100V、250V、500V,1000V,2500V,5000V等幾種;從使用型式分又分為手搖式和電動(dòng)式。高壓電力設(shè)備絕緣預(yù)防性試驗(yàn)中,常用的絕緣電阻測(cè)試儀是1000V,2500V,5000V 。
常用手搖式絕緣電阻測(cè)試儀的原理接線如圖1-1所示。從絕緣電阻測(cè)試儀外觀看有三個(gè)接線端子,它們是:
圖1-1 手搖式絕緣電阻測(cè)試儀原理接線圖
“L”端子——線路端子,輸出負(fù)極性直流高壓時(shí)接于被試品的高壓導(dǎo)體上。
“E”端子——接地端子,輸出正極性直流高壓時(shí)一般接于被試品外殼或地。
“G”端子——屏蔽端子,輸出負(fù)極性直流高壓,測(cè)量時(shí)接于被試品的屏蔽環(huán)上,以消除表面或其他不需測(cè)量的部分泄漏電流的影響。
手搖式絕緣電阻測(cè)試儀的直流電源一般由內(nèi)裝手搖發(fā)電機(jī)供給。數(shù)字絕緣電阻測(cè)試儀的直流電源則采用電池使晶體管振蕩器產(chǎn)生交變電壓,經(jīng)變壓器升壓及倍壓整流后輸出的直流高壓供給。
圖1-1中,L1、L2分別為絕緣電阻測(cè)試儀的電流線圈與電壓線圈,二者繞向相反,固定在同一轉(zhuǎn)軸上,并可帶動(dòng)指針旋轉(zhuǎn);由于設(shè)有彈簧游絲,所以指針沒有反作用力矩,當(dāng)線圈中沒有電流時(shí),指針可停留在任意偏轉(zhuǎn)角α位置。
RU為分壓電阻,RI為限流電阻,RX為被試設(shè)備絕緣電阻。當(dāng)測(cè)量某一被試品RX時(shí),線圈L1、L2中分別流過(guò)電流I1、I2,產(chǎn)生的兩個(gè)不同方向的轉(zhuǎn)動(dòng)力矩為:
M1=I1f1(α)
M2=I2f2(α)
在這兩個(gè)力矩差的作用下,可動(dòng)部分旋轉(zhuǎn),一直旋轉(zhuǎn)到力矩平衡時(shí)為止,即:
M1=M2 或 I1f1(α)=I2f2(α)
I1/I2=f2(α)/f1(α)=f(α)
或者說(shuō)α=f(I1/I2)
由圖1-1可見,I1的大小決定于回路電壓U,以及RI和RX之和,即:I1=U/RI=RX;I2的大小決定于U與RU。即:I2=U/RU,所以:
α=f{(U/RI+RX)/(U/RU)}=f{RU/(RI+RX)}
由于RI、RU為常數(shù),所以:
α=f(RX)
即絕緣電阻測(cè)試儀的轉(zhuǎn)偏角α的大小是絕緣電阻RX的函數(shù),由RX決定。
流過(guò)屏蔽端子“G”的電流I3不流過(guò)L1、L2線圈,故對(duì)絕緣電阻測(cè)試儀偏轉(zhuǎn)角α無(wú)影響,即對(duì)絕緣電阻Rx無(wú)影響,起到了屏蔽作用。
將”L”、“E”端子短接,流過(guò)電流線圈L1的電流最大。指針按逆時(shí)針方向轉(zhuǎn)到最大位置,此位置應(yīng)是“0”值位置。當(dāng)“L”、“E”端子間開路時(shí),電流線圈L1中沒有電流流過(guò),只有電壓線圈L2中有電流流過(guò),于是指針按順時(shí)針方向轉(zhuǎn)到最大位置,并指“∞”,即被測(cè)電阻RX為無(wú)窮大。這種方法在現(xiàn)場(chǎng)可用于簡(jiǎn)單判斷絕緣電阻測(cè)試儀正常與否。注意短接“L”、“E”端子的時(shí)間不宜很長(zhǎng)。
當(dāng)“L”、“E”端子間接上被測(cè)電阻RX時(shí),其數(shù)值若在“0”與“∞”之間變化,則指針停留的位置有L1、L2兩個(gè)線圈中的電流I1和IU的比值決定,由于RX是串在L1支路中,故I1的大小隨RX的大小變化而變化,于是RX的大小就決定了指針的偏轉(zhuǎn)角位置。
用標(biāo)準(zhǔn)電阻作為被測(cè)件刻度絕緣電阻測(cè)試儀的表盤,然后用此絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量被測(cè)電阻,根據(jù)表盤指示,就可以知道被測(cè)電阻的大小。
絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)的的電阻與其端電壓有關(guān)系。絕緣電阻測(cè)試儀所測(cè)得的絕緣電阻同端電壓的關(guān)系曲線叫絕緣電阻測(cè)試儀的負(fù)載特性,如圖1-2所示。
圖1-2 絕緣電阻測(cè)試儀的負(fù)載特性示意圖
當(dāng)被試品絕緣電阻過(guò)低時(shí),表內(nèi)電壓降低將使其端電壓顯著下降;端電壓劇烈下降時(shí),測(cè)得的絕緣電阻值就不能反映絕緣的真實(shí)情況。一般絕緣電阻測(cè)試儀的容量較小,測(cè)得的大容量設(shè)備的絕緣電阻—般準(zhǔn)確性都較低。
不同型號(hào)的絕緣電阻測(cè)試儀,其負(fù)載特性不同,因此用不同型號(hào)的絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果有明顯差異。實(shí)際測(cè)量當(dāng)中,為便于縱向及橫向比較,同類設(shè)備盡量采用同一型號(hào)絕緣電阻測(cè)試儀。